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200–2200nm 全波段光纖光譜儀|ATP9200 跨波段反射率測試系統詳解

點擊次數:290  更新時間:2026-04-15

在材料表征、光學器件檢測、新能源研發、涂層與薄膜分析等場景中,從紫外到短波紅外的寬波段反射率測量,一直是高精度實驗的核心需求。

單一光譜儀往往只能覆蓋有限波段,想要同時拿到紫外?可見?近紅外的完整反射曲線,往往需要多套設備、多次校準、數據拼接繁瑣,還容易出現基線漂移、波段不連貫、信噪比不足等問題。



應用簡介

一束光照射到樣品表面,能量會分成三部分:

反射:光被表面彈回來(我們要測的就是它)

吸收:光被材料內部吸收,變成熱量

透射:光穿過物體,從另一面出去

根據能量守恒:反射率 R + 吸收率 A + 透射率 T = 100%

對于不透明材料(T≈0),就簡化為:反射率 R + 吸收率 A ≈ 100%反射越強,吸收越弱;反射越弱,吸收越強。

中考物理知識點:鏡面反射和漫反射_光的反射_中考網

圖1.鏡面反射和漫反射圖解


測量反射率,必須先區分兩種反射模式:

1. 鏡面反射(Specular Reflection)

發生在光滑、平整、光亮表面

例如:鏡子、光學鏡片、鍍膜、拋光金屬

特點:入射角 = 反射角,光朝一個方向反射

測量:需要按角度接收,否則測不準

2. 漫反射(Diffuse Reflection)

發生在粗糙、粉末、啞光、布料、涂料、紙張、塑料等表面

特點:光被散射到所有方向,沒有固定反射角

測量:必須用積分球收集全方向的反射光

在實際測試中,絕大多數樣品都是鏡面反射 + 漫反射同時存在,因此專業系統都會用積分球統一測量,保證結果準確。


應用實例


一、光學薄膜 / 增透膜 / 高反膜 / 濾光片研發與質檢

光學薄膜是現代光學系統的核心,而反射率是判斷膜層是否合格的第一指標。在鏡頭、激光鏡片、AR/VR 鏡片、窗口片、濾光片、分光片的生產與研發中,必須通過反射率曲線判斷膜層厚度、折射率、應力、均勻性是否達標。

增透膜(AR):要求在可見光或紅外波段反射率盡可能低,通常目標<1%,以提升透光率、減少眩光與鬼影。

高反膜(HR):要求在特定波段反射率>95% 甚至 99%,用于激光腔、反射鏡、能量回收結構。

帶通濾光片:反射率曲線必須呈現明顯的截止邊,用于篩選特定波長通過或反射。


二、光伏材料:反光膜、光伏背板、電池片、反光涂層

太陽能電池的發電效率,高度依賴紅外波段的光捕獲與反射利用。在光伏產業,反射率是衡量反光膜、光伏背板、鋁漿、反光涂層性能的關鍵指標。

光伏背板:需要在 900–1700nm 紅外波段保持高反射,把穿透電池片的紅外光反射回去二次利用,提升整體輸出功率。

反光涂層:用于光伏組件、聚光光伏、溫室透光材料,反射率越高,光利用率越高。

電池片表面:通過反射率判斷絨面結構、鍍膜質量、鈍化效果是否達標。

行業常見要求:1000–1700nm 平均反射率>85%。


三、涂料、油墨、顏料、紡織品:顏色、色差、耐候、老化

涂料、顏料、染料、布料、皮革的顏色本質就是不同波長的反射率差異。反射率曲線相當于材料的 “顏色指紋",可用于配色、色差判定、耐候測試、老化評估。

白色涂料 :400–700nm 可見光反射率接近 95%,白度越高反射曲線越平坦。

啞光材料:全波段反射率極低,通常<5%。

耐候性測試:通過加速老化前后反射率變化,判斷是否褪色、粉化、黃變。

紡織品色差:布料、紗線、印染品的反射率一致性直接決定批次穩定性。


四、顯示與玻璃行業:防眩光、低反射、高透玻璃

手機屏幕、車載顯示屏、車窗玻璃、光學玻璃、護眼面板的觀感與清晰度,由反射率直接決定。

低反玻璃 :要求可見光反射率<0.5%,避免強光下反光刺眼。

鍍膜玻璃:通過紅外波段反射率控制隔熱性能,反射越高越隔熱。

蓋板玻璃:反射率曲線直接影響屏幕亮度、對比度、可視角度。

在顯示行業,反射率是衡量防眩光、抗反射、高通透效果的最直觀數據。


五、粉末、顆粒、多孔材料:漫反射成分與品質分析

催化劑、陶瓷、粉末冶金、糧食、土壤、化工原料大多是松散、粗糙、不透明的樣品,只能通過漫反射進行分析。

催化劑:漫反射率與活性組分、負載量、比表面積相關,可判斷催化性能。

陶瓷 :反射率反映燒結程度、致密度、雜質含量。

粉末冶金:反射率可用于粒度、氧化程度、純度判定。

土壤 :近紅外反射率與含水率、有機質、金屬元素相關。


六、金屬、拋光件、鍍層:表面質量與氧化程度判定

拋光金屬、電鍍件、陽極氧化件、不銹鋼、鋁合金的表面光潔度、鍍層質量、氧化程度,都會直接體現在反射率曲線上。

拋光越好:反射率越高,曲線越平滑,噪聲越小。

氧化 :反射率明顯下降,曲線出現不規則波動。

劃痕 :局部反射突變,可用于表面缺陷判定。

鍍層質量:反射率一致性反映電鍍均勻性、膜厚穩定性。

在精密制造、五金、3C 產品外殼、汽車零部件質檢中,反射率可作為非接觸、無損、快速的表面質量判定手段,高效替代人工目視檢查。


七、紙張、包裝、薄膜、醫用材料:白度與均勻性檢測

在包裝、印刷、醫用耗材、功能薄膜行業,白度、透光、反射均勻性是關鍵品質項。

高白度紙張:可見光反射率越高,白度等級越高。

涂布紙:反射率反映涂布量、均勻性、吸墨性。

功能薄膜:反射率可判斷霧度、表面處理、防霧效果。

醫用耗材 :反射率用于外觀判定、成分均勻性、包衣質量。


八、食品、農產品、中藥材:快速無損品質篩查

近紅外波段反射率與食品內部成分高度相關,無需制樣、無需試劑、無損快速,是現代快檢的重要方向。

糧食 :反射率與水分、蛋白、脂肪、淀粉相關。

水果 :近紅外反射變化反映糖度、成熟度、含水率。

中藥材:反射光譜可用于真偽鑒別、產地溯源、成分判斷。

海產品:反射率反映新鮮度、脂肪含量、解凍狀態。




產品推薦

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圖2.測試設備圖示

1. 光源

【ATG1020H光源介紹】 

奧譜天成的ATG1020H氘鹵組合燈光源,采用日本濱松公司的氘燈燈泡,可以產生穩 定的180-400nm的輸出光譜。 鹵鎢燈采用歐司朗生產的長壽命、高穩定性燈泡,使用壽 命長達5000小時;采用自主設計的高可靠性恒流驅動電流。ATG1020H還具有壽命長、 光衰小、輸出功率大等特點,可廣泛應用于傳統桌面型光譜儀器及現場便攜式微型光譜儀器。ATG1020氘燈光源可以加裝比色皿支架,可以直接進行比色皿或者濾光片的透射 吸收測試。 

光源的基本操作步驟:

 l、使用12V電源適配器連接光源,打開電源開關; 2、啟動光源,預熱 10 分鐘,以達到穩定狀態; 3、光纖與光源連接后,可通過開關單獨啟動氘燈或鹵燈;

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圖3.ATG1020H

2. 反射率積分球

【反射率積分球介紹】

反射率積分球由PTFE材料發泡制成,可涵蓋紫外到近紅外光譜的范圍,積分球在光譜區間內具有較高的反射率、出色的熱穩定性和化學穩定性,極少出現發黃和掉粉的情況。該球體采用氧化鋁材料,其內膽直徑達到38mm,樣品口直徑為9.5mm,同時還配備了一個固定支架,以便于進行測試操作。該反射率積分球設有三個開口,其一為入光口,用于連接光源,入光口前端配置有準直鏡,與法線呈8°入射;其二為出光口,垂直于法線輸出,用以連接光譜儀,進出光口均為通用的SMA905光纖接口;其三為樣品口,用于放置樣品測試。

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圖4.反射率積分球


3. 漫反射標準白板

【漫反射標準白板介紹】

出光口漫反射標準白板是一種高反射率的參考材料,用于校準和驗證光學測量設備(如分光光度計和光譜儀)。這些白板提供一個已知的反射基準,用于對比和校正測量結果,確保準確性和一致性。奧譜天成提供的漫反射標準白板產品采用PTFE材料高溫加工成型,具有防水功能,適用于紫外到近紅外 寬光譜譜段,反射比值最高可達99%,尺寸為80×80mm。該漫反射標準白板能夠配合光譜儀和光源,適用于測試各種樣品的反射率。

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圖5.漫反射率白板


4. 光纖光譜儀

4.1 紫外可見波段

【ATP6500科研級高靈敏度光纖光譜儀介紹】

ATP6500是奧譜天成研制的超高性能制冷型微型光纖光譜儀,是性能的王&者,它采用1044 x 64像素的制冷型背照式線性CCD,該CCD具有最大的動態范圍,并采用了半導體制冷技術,降低了工作時的暗電流,CCD可工作在設定的恒溫環境(最&低可達-15℃),從而大幅降低了傳感器的噪聲,獲得了極&佳的信噪比(比同類競爭對手提高了約2倍),而且提高了ATP6500的測量可靠性,測量結果不隨環境溫度變化。

同時,奧譜天成為ATP6500特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路,其量化噪聲小于5 counts,為業界最佳水平。ATP6500可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光,通過USB2.0或者UART端口,輸出測量所得的光譜數據。ATP6500只需要一個5V直流電源供電,非常便于集成使用。


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圖6.ATP6500


4. 2 近紅外波段

【ATP8200高靈敏度短波紅外 光纖光譜儀介紹】

ATP8200 是奧譜天成在廣受海內外市場青睞的ATP8000 基礎上,精心研發的新一代近紅外微型光纖光譜儀。儀器搭載了全新設計的光學平臺與信號處理電路,實現了更高的信號靈敏度和光譜分辨率,其最大工作范圍可拓展至 900-2200nm,且可根據實際需求進行定制。它采用了先進的制冷型 InGaAs 線陣探測器,運用半導體制冷技術,能夠在設定的恒溫環境(最&低可達- 30℃)中穩定工作,從而顯著降低了傳感器噪聲,獲得了極&佳的信噪比,較同類競品高出約 2 倍,大幅提升了ATP8200 的測量可靠性,確保測量結果不受環境溫度變化的影響,始終保持精準穩定。

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圖7.ATP8200


5. 集成后的寬波段光纖光譜儀系統(ATP9200)

ATP9200系列寬波段光纖光譜波長范圍最寬可達200nm-2200nm,適用于物理、光電、材料、生物等各領域應用。 ATP9200系列寬波段光纖光譜儀采用不同波段的多臺光譜儀進行組合,形成超寬波段的光譜儀,同時又具備較好的光譜分辨率,具有性價比高,測量快速、準確,操作簡單,攜帶方便等特點,配有功能強大的軟件包,除了測量光譜信號外,還可以用于反射率、透射率測量,也可用作輻射度學,光度學和色度學測量。 ATP9200可以接收外部的采集觸發信號,進行同步光信號采集。ATP9200也可以根據客戶的不同需求進行波段范圍,光譜儀組合等進行定制。

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圖7.ATP9200


測試方案

3

相對反射率測量法

核心邏輯:

用一塊反射率已知、非常穩定、接近 100% 的標準白板作為參考基準。先測白板 → 再測樣品 → 軟件自動算比值 → 得到真實反射率。

公式

樣品反射率 R (λ) = (樣品信號 / 白板信號) × 白板標準反射率

  • 樣品信號:測樣品時光譜儀讀到的光強

  • 白板信號:測標準白板時讀到的光強

  • 白板標準反射率:出廠標定值(通常 99% 左右)


完整測量流程

第 1 步:暗背景校準

  • 關閉光源

  • 擋住入射光

  • 采集光譜儀自身噪聲

  • 軟件自動扣除,保證基線為 0

第 2 步:標準白板校準

  • 放上標準漫反射白板(反射率已知)

  • 采集白板的反射光譜

輸入白板反射率

第 3 步:樣品測量

  • 放上被測樣品

  • 采集樣品的反射光譜

  • 軟件自動計算:R = 樣品光強 ÷ 白板光強 ×白板反射率

第 4 步:輸出結果

得到一條反射率 — 波長曲線橫軸:波長 (nm)縱軸:反射率 (%)



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奧譜天成提供全面且可靠的光譜分析儀器,包括ATP系列光纖光譜儀、ATR系列拉曼光譜儀、IR紅外光譜儀、ATF熒光光譜儀等系列產品,滿足各類檢測應用需求。


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